FLUORESCENCIA DE RAYOS X 2025

La técnica de análisis por Fluorescencia de Rayos X comprende modelos matemáticos avanzados que permiten incrementar la exactitud del análisis, sin embargo, si son mal aplicados, pueden llevar a resultados erróneos.

La correcta aplicación de estos modelos permite reducir la incertidumbre del análisis, especialmente en aplicaciones exigentes como análisis de trazas o certificación de patrones secundarios.

  • Conocer los diferentes efectos de matriz que inciden en los resultados de Fluorescencia de Rayos X: físicos, espectrales e interelementales.
  • Estudiar los modelos matemáticos para corrección de efectos de matriz.
  • Calcular coeficientes de influencia interelemental y validar su aplicación.
  • Líneas espectrales.
  • Absorción y umbrales de absorción.
  • Clasificación de efectos de matriz.
  • Corrección de interferencias espectrales: fondo y solapamiento.
  • Corrección de absorción y refuerzo.
  • Coeficientes de influencia.
  • Modelos de corrección interelemental.

Se realizarán talleres prácticos y simulaciones en computador para afianzar los temas estudiados.

Profesionales con experiencia en análisis por Fluorescencia de Rayos X que deseen profundizar sus conocimientos y estar en capacidad de resolver situaciones analíticas complejas.

Fecha límite de inscripción: 3 de octubre de 2025

Ing. Félix Torres:

Especialista de Desarrollo y Prestación de Servicios en COMAST, con más de 25 años de experiencia específica en técnicas de análisis por Espectrometría de Rayos X aplicadas al control de calidad y de proceso para la industria. Instructor en seminarios avanzados de Fluorescencia y Difracción de Rayos X en Latinoamérica.

Ing. Joost Oostra:

Gerente General del Grupo COMAST, Especialista en Espectrometría de Rayos X, con más de 35 años de experiencia en áreas de control de calidad, operaciones y gerencia de plantas cementeras. Instructor en seminarios avanzados de Fluorescencia y Difracción de Rayos X en Latinoamérica. Consultor internacional en la implementación de la norma ISO/IEC 17025:2017.

El contenido de este seminario es aplicable a espectrómetros de Rayos X de cualquier marca o modelo.